一、設備用途：

    適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗；半導體、精密組件、零件接腳氧化試驗。

二、主要技術參數(shù)：

規(guī)格型號： HE-ZQ-5417

內部尺寸： 500×400×170（W×H×D）mm；

外部尺寸： 600×500×420（W×H×D）mm

內外箱材質： SUS304#優(yōu)質不銹鋼板

控制功能： PID+SSR，數(shù)字式顯示

升溫時間： 大約40分鐘，

蒸氣溫度： ≥97℃

計時功能： 1～9999H/M/S，附時到報警功能，時間到達后切斷電源

水位控制： 低水位報警功能

電源： AC 220V±10% 50Hz 1.0KW